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微波光電導載流子復合壽命測試儀的指標
發布時間:2018-03-19瀏覽次數:1639返回列表
產品介紹:
本儀器配置數字存儲示波器,軟件依照壽命測量基本原理編寫,采用了標準(MF28 及MF1535)中推薦的幾種讀數方法。
數字示波器具有存儲功能,應用平均采樣方式,平均次數可選4、16、32、64、128、256 次,隨平均次數的增加隨機噪聲被減小,波形穩定、清晰。
微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI 標準MF1535-0707 及標準GB/T 26068-2010設計制造。本設備采用微波反射無接觸光電導衰退測量方法,適用于厚度為1mm 以下的硅片、電池片少數載流子壽命的測量,提供無接觸、傷、數字顯示的快速測量。壽命測量可靈敏地反映半導體重金屬污染及缺陷存在的情況,是半導體的重要檢測項目。
少子壽命測定儀|微波光電導載流子復合壽命測試儀 型號:GDSWJ-100B指標:
壽命測量范圍:0.25μs~10ms;
電阻率下限:≥0.5Ω·cm,尚未發現電阻率測量上限。
型號:N 型或P 型單晶或鑄造多晶。
紅外光源波長:0.904~0.905μm;
外形尺寸:365×415×160mm
產品重量:13Kg
工作電源:~220V 50Hz
功耗范圍:≤40W
基本配置:
100B壽命儀主機1臺
數字示波器1臺
信號線1條
校核片1片
156*156開方硅錠測試臺1套







