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表面污染的監(jiān)測(cè)
發(fā)布時(shí)間：2020-03-24瀏覽次數(shù)：1363返回列表
表面污染監(jiān)測(cè)實(shí)際上是監(jiān)測(cè)放射性污染物發(fā)出的α粒子或β粒子。對(duì)于壓水堆核電廠而言，表面α污染較為少見，因而一般核電廠控制區(qū)內(nèi)的表面污染監(jiān)測(cè)主要是對(duì)β表面污染的監(jiān)測(cè)。
表面污染的監(jiān)視方法一般有兩種，一種為直接測(cè)量，一種為間接測(cè)量。
所謂直接測(cè)量，就是用污染監(jiān)測(cè)儀的探測(cè)器直接對(duì)待測(cè)的表面進(jìn)行測(cè)量。直接測(cè)量的污染是被測(cè)表面上固定污染和松散污染的總和。
所謂表面污染的間接測(cè)量，就是將被測(cè)表面的放射性污染，通過擦拭取樣轉(zhuǎn)移到擦拭紙上，然后用污染監(jiān)測(cè)儀測(cè)量擦拭樣品。因此，間接測(cè)量的污染是被測(cè)表而上的松散污染．
間接測(cè)量法主要用于不便于直接測(cè)量的表面（如管道、溝槽、門把手等）或被測(cè)表面附近γ輻射本底較強(qiáng)而元法進(jìn)行直接測(cè)量的場(chǎng)合。
核電廠常用的測(cè)量β表面污染的儀器是MIPIO或6150AD5/H+AD17
