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公司名稱:北京亞歐德鵬科技有限公司
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電阻率/方塊電阻測(cè)試儀概述DP-DB1方阻測(cè)試為薄膜測(cè)試提供機(jī)械、電氣兩方面的保護(hù),在寬的量程范圍內(nèi),使電子薄膜能得到的方塊電阻測(cè)量結(jié)果。...
電阻率/方塊電阻測(cè)試儀 型號(hào):DP-DB1
電阻率/方塊電阻測(cè)試儀概述
DP-DB1方阻測(cè)試為薄膜測(cè)試提供機(jī)械、電氣兩方面的保護(hù),在寬的量程范圍內(nèi),使電子薄膜能得到的方塊電阻測(cè)量結(jié)果。
電阻率/方塊電阻測(cè)試儀DP-DB1儀器技術(shù)參數(shù)
方阻測(cè)量范圍:1×10-5~2×106Ω/□,小分辨率1×10-5Ω/□;
電阻率測(cè)量范圍:1×10-6~2×105Ω·cm或1×10-8~2×103Ω·m,小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m;
探針壓力:25g~250g;
探針曲率半徑:25μm~450μm
(注:探針壓力及曲率半徑可根據(jù)薄膜材料性能及用戶需求制);
測(cè)試電流分7檔:1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA;
測(cè)試電壓:(1μA~10 mA檔)12~80V連續(xù)可調(diào)
(100mA檔) 8~36V連續(xù)可調(diào)
(1000mA檔) 8~15V連續(xù)可調(diào);
測(cè)量方式:手動(dòng)或自動(dòng)(選配測(cè)試軟件);
測(cè)量對(duì)象:導(dǎo)電薄膜、半導(dǎo)體薄膜、電力電容器鋁箔、金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等電子薄膜;各種半導(dǎo)體材料的電阻率。
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