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手持式數字式四探針測試儀/手持式四探針測試儀/四探針電阻測試儀 型號:DPM-2DPM-2型手持式數字式四探針測試儀是運用四探針測量...
產品詳細介紹
手持式數字式四探針測試儀/手持式四探針測試儀/四探針電阻測試儀 型號:DPM-2
DPM-2型手持式數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美 A.S.T.M 標準。
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DPM-2型手持式數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成:由主機、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測試臺。
主機主要由數控恒流源,分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成,自動轉換量程。儀器所有參數設定、功能轉換全部采用旋鈕輸入;具有零位、滿度自校功能;全自動轉換量程;測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動場合操作使用!
探頭選配:根據不同材料性需要,探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配用探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見 表2《四探針探頭型號規格征選型參照表》點擊入
儀器具有測量精度、靈敏度、穩定性好、智能化程度、結構緊湊、使用簡便等點。儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
手持式數字式四探針測試儀基本技術參數
1. 測量范圍、分辨率
電 阻: 0.010 ~ 9999Ω, 分辨率0.001 ~ 1 Ω
電 阻 率: 0.010~ 2000Ω-cm, 分辨率0.001 ~ 1 Ω-cm
方塊電阻: 0.050~ 2000Ω/□ 分辨率0.001 ~ 1 Ω/□
2. 材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,但加配測試臺則由選配測試臺和測試方式決定
直 徑:DP/SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm。
DP/SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。
長()度:測試臺直接測試方式 H≤100mm。.
測量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等
|
量程(Ω-cm/□)
|
9.999
|
99.99
|
999.9
|
9999.
|
|
電阻測試范圍
|
0.010~9.999
|
9.99~99.99
|
99.99~999.9
|
999.9~9999
|
|
電阻率/方阻
|
0.010/0.050~9.999
|
9.99~99.99
|
99.99~999.9
|
999.9~2000
|
|
基本誤差
|
±1%FSB±2LSB
|
±2%FSB±2LSB
|
||
4) 適配器工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電
5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈 重:≤0.5kg
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