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產品詳情
- 產品/服務：TZTFE-2000薄膜鐵電測試儀
- 單 價：面議
- 更新日期：2024-09-18
- 有效期至：長期有效
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產品簡介
TZTFE-2000薄膜鐵電測試儀是一款應用于薄膜材料的鐵電性能測試的設備，該設備具有動態電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測試功能.，可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的...
產品詳細介紹
TZTFE-2000薄膜鐵電測試儀
TZTFE-2000薄膜鐵電測試儀是一款應用于薄膜材料的鐵電性能測試的設備，該設備具有動態電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測試功能.，可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的研究。
TZTFE-2000薄膜鐵測試儀與探針臺配套使用，可實現薄膜的鐵電性能測試。動態電滯回線測試頻率和激勵測試電源，用戶可根據需要進行選擇，動態電滯回線測試頻率范圍為1mHz～500kHz可選，激勵測試電源±10/30/100/200/500VAC可選，也可根據用戶需要進行定制。
TZTFE-2000薄膜鐵測試儀本測試系統由主控器、探針臺、計算機及系統軟件部分組成。主控器集成了內置激勵測試電源、電荷積分器、可編程放大器、模數轉換器、通訊總線等功能，系統軟件包括可視化數據采集和管理功能，測試時，無需改變測試樣品的連接，即可實現滯回，脈沖，漏電，IV等性能測試。
本測試系統鐵電性能測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法，與傳統的Sawyer- Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環節，容易定標和校準，并且能實現較高的測量準確度。
本系統提供外接高壓放大器的接口，對于需要做高壓測試、高壓漏電流測試 的用戶，可直接擴展此功能。
用戶選擇此款設備，需向廠家提供測試頻率、激勵測試電壓等要求。
測試功能：
· 動態電滯回線(DHM)
· I-V特性
· 脈沖(PUND)
· 靜態電滯回線(SHM)
· 疲勞(FM)
· 漏電流(LM)
· 電流-偏壓
· 保持力(RM)
· 印跡(IM)
可擴展部件：
· 探針臺
· 主要技術參數：
1.電壓范圍（內置電壓）：±40V，（可外接高壓放大器，最大10KV）；
2.ADC位數：18；
3.最小電荷分辨率：≤10fC；
4.最大電荷分辨率：276μC；
5.最大電滯回線測試頻率：0.03Hz~300KHz；
6.最小電滯回線測試頻率：0.01Hz；
7.最小脈沖寬度：1μs；
8.最小脈沖上升時間：50μs；
9.最大脈沖寬度：1μs；
10.額定功率：≥500W；
11.設備總電源方式：AC：220V；
12.配備JKTD型探針臺(尺寸:直徑30mm,材質：銅,線纜：同軸線/三軸線；)
13.漏電精度：1pA；
14.固定探針：彈簧固定/管狀固定；
15.接頭類型：BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子。
選配高壓功率放大器:
1.輸出電壓：-200～200V
2.輸出電流：-100～100mA
3.大信號帶寬：DC≥500KHz/s
4.小信號帶寬：DC≥10kHz(-3dB)
5.隨時間穩定性：50ppm/小時；
6.隨溫度穩定性：200℃；
7.精度：≤0.1%滿量程；
8.設備帶有TTL接口；
9.設備帶有遠端控制BNC接口；
10.供電：220V，50Hz。
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