GDJD-600型高低溫介電性能測(cè)量系統(tǒng)（四通道測(cè)試，同時(shí)測(cè)試4個(gè)樣品）

關(guān)鍵詞：高低溫介電測(cè)量?jī)x，高低溫介電測(cè)量系統(tǒng)，

產(chǎn)品介紹：

   GWJD-600型高溫介電性能測(cè)量系統(tǒng)主要應(yīng)用于高低溫下材料的介電性能測(cè)

試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時(shí)測(cè)試出測(cè)試材料的其

他阻抗參數(shù)，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。

一、產(chǎn)品:

1.實(shí)現(xiàn)室溫-140°C-800°C的低高溫介電轉(zhuǎn)換測(cè)量

2.四通道測(cè)試,可以同時(shí)測(cè)試1-4個(gè)樣品，方便快捷

3.數(shù)據(jù)分析軟件:提供多種掃描曲線,可以在多窗口之間切換數(shù)據(jù)

二、《符合ASTMD150和 D2149-97標(biāo)準(zhǔn)>>

<<符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的推薦方法;》

三、產(chǎn)品特點(diǎn)

1.可以在低高溫、寬頻、真空條件下測(cè)量固體、薄膜樣品的介電性能；

2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時(shí)間譜等測(cè)量功能;

3.可以測(cè)量樣品的介電常數(shù)、介電損耗，電容C，損耗D，電感L，品質(zhì)因數(shù)Q，阻抗Z等物理量;以實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個(gè)溫度、多個(gè)頻率變化的曲線，時(shí)間和電壓變化的曲線；

4、可提供塊體，薄膜，單樣品，四樣品夾具，滿足不同測(cè)試要求。

主要技術(shù)指標(biāo)：

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