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公司名稱:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司

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關(guān)于收到南昌航空航天大學(xué)高溫介電樣品一批的測(cè)量

發(fā)布時(shí)間:2024-02-23瀏覽次數(shù):904返回列表

關(guān)于收到南昌航空航天大學(xué)高溫介電樣品一批的測(cè)量

關(guān)于收到南昌航空航天大學(xué)高溫介電樣品一批的測(cè)量

    近日,我單位收到了南昌航空航天大學(xué)要求送樣一批樣品,要求做-120℃-400℃的高溫介電測(cè)量。這是該校委托我們第二批次數(shù)據(jù)測(cè)量,收到樣品后我們時(shí)間安排測(cè)試,并準(zhǔn)確的給出了數(shù)據(jù)給老師,老師在收到我們的數(shù)據(jù)后給予滿意評(píng)價(jià)。未來我們將繼續(xù)為客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。

     

GWJDN-4型高低溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)

GWJDN-4型高低溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)

關(guān)鍵詞:四通道,溫度:-190-1000℃,120MHZ


GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量,并參考美國(guó)A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測(cè)試過程的安全;資料保存機(jī)制,當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中,不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù),設(shè)備重新啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。用于分析寬頻、高低溫條件下樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線。可應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。

產(chǎn)品特點(diǎn):

1、   提供多方位的測(cè)量功能和多元化的價(jià)位擁有出色的測(cè)量精度:

匹配國(guó)內(nèi)外阻抗分析儀是采用自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器,其0.05%的基本精度、達(dá)5.6ms的測(cè)試速度、10Hz-300MHz的頻率范圍及高達(dá)1GΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響,將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

2、      采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置。自動(dòng)升溫降溫,測(cè)試功能強(qiáng)大

3、   四通道同時(shí)測(cè)量,提高效率,增加對(duì)比測(cè)試的精度;

材料與結(jié)構(gòu)匹配設(shè)計(jì)夾具,高低溫穩(wěn)定性好、精度高;

溫介電頻譜測(cè)試功能;變溫阻抗測(cè)試功能;掃頻測(cè)試功能;

軟件:采用C#語言編寫,可視化程度高,自動(dòng)測(cè)試,同時(shí)顯示四通道的測(cè)試數(shù)據(jù),并圖形化。

4、         專用高頻測(cè)試線纜,適合高頻測(cè)量測(cè)試引線使用4端子對(duì)配置以擴(kuò)展測(cè)量端口,附帶BNC陽頭連接板,用于連接高溫爐的測(cè)試夾具,同時(shí)測(cè)試線采用高頻測(cè)試專用測(cè)試線,設(shè)計(jì)兩層屏蔽。適合高頻介電參數(shù)測(cè)量。

5、      可以實(shí)現(xiàn)多種材料不同功能的測(cè)試,高溫介電,電阻測(cè)試等

探測(cè)采用鉑金電極,抗干擾能力強(qiáng),測(cè)量精度高

高溫爐加熱均勻,可實(shí)現(xiàn)多種氣氛環(huán)境下的測(cè)試

介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線,多種物理參數(shù)可實(shí)時(shí)測(cè)試

專用的分析和測(cè)試軟件,可以自行定義,保存數(shù)據(jù)


主要技術(shù)參數(shù):

1、加熱范圍:  -190℃-1000℃

2、加熱方式:  雙傳感器

3、升溫速率:  10℃/min

4、溫度精度:  0.1℃

5、冷卻方式:  液氮

6、能否保護(hù)氣氛加熱:可以充氣氛

7、電極材料:  鉑銥金

8、測(cè)量功能:  阻抗各種功能

9、通道數(shù):4通道

10、同時(shí)測(cè)試樣品數(shù)量:     四個(gè)樣品

11、測(cè)試頻率數(shù)量   20HZ-120MHZ

12、可配套:ZJ-3型D33系數(shù)測(cè)儀,配套PZT-JH10/4型壓電極化裝置

13、無電極樣品尺寸      直徑小于40mm,厚度小于8mm

14、帶電極樣品尺寸      直徑小于26mm,厚度小于8mm

15、電極干擾屏蔽   電極引線帶同軸屏蔽,樣品平臺(tái)帶屏蔽罩

16、夾具升降控制   帶程序和手動(dòng)控制,可換夾具的電動(dòng)升降裝置

17、熱電偶 熱電偶探頭與樣品平臺(tái)為同一熱沉,測(cè)控溫度與樣品溫度保持一致

18、軟件功能:自動(dòng)分析數(shù)據(jù),可以分類保存,樣品和測(cè)量方案結(jié)合在一起,生成系統(tǒng)所需的實(shí)驗(yàn)方案,輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

20、測(cè)量方案    提供靈活、豐富的測(cè)試設(shè)置功能,包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

21、接口方式:包括Keysight\WayneKerr\Tonghui等多種LCR接口,

20、外形尺寸    L360mm*W370mm*H510mm

21、凈   重          22KG

22、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品:8片(10mm*1.5mm)

23、配套設(shè)備裝置:能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量

24、配套設(shè)備裝置:可以配置10MM,20MM,30MM,40MM壓片夾具







測(cè)試儀器:

高溫介電測(cè)試系統(tǒng)可適配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、

Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等系列LCR表或阻抗分析儀,其他品牌型號(hào)也可定制開發(fā)

Agilent E4990A

·         五種頻率選擇;20 Hz  10/20/30/50/120 MHz,可升級(jí)

·         ±0.08%(典型值 ±0.045%)基本阻抗測(cè)量精度

·         25Ω m  40 MΩ 寬阻抗測(cè)量范圍(10% 測(cè)量精度范圍)

·         測(cè)量參數(shù):|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、CD、Q、復(fù)合 Z、復(fù)合 YVAC、IacVDC、Idc

·         內(nèi)置直流偏置范圍:0 V 至 ±40 V、0 A 至 ±100 mA

·         10.4 英寸彩色 LCD 觸摸屏上的 4 通道和 4 跡線

·         數(shù)據(jù)分析功能:等效電路分析、極限線測(cè)試


Agilent E4294A

覆蓋了很寬的測(cè)試頻率范圍(40hz110mhz),具有±0.08%的基本阻抗精度。其優(yōu)異的高q/d值精度使其能分析低損耗元件。其寬信號(hào)電平范圍可用于在實(shí)際工作條件下評(píng)估器件。測(cè)試信號(hào)電平范圍為5mv1vrms200ua20marms,直流偏置范圍為0v至±40v0ma至±100ma。的校準(zhǔn)和誤差補(bǔ)償功能避免了進(jìn)行夾具內(nèi)器件測(cè)量時(shí)的測(cè)量誤差。agilent 4294a是適用于電子元件設(shè)計(jì)、論證、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)試的強(qiáng)大工具。電路設(shè)計(jì)和開發(fā)工程師也能從它提供的性能和功能中受益。


Agilent E4980A



基本精度為0.1%

測(cè)試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程為20mV~1Vrms,以5mVrms分檔
具有測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能
高速測(cè)量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測(cè)試量程
變壓器參數(shù)測(cè)量(供選用)

Wayne Kerr 6500P/B

簡(jiǎn)易的TFT觸屏操作,10分鐘內(nèi)輕易上手

  電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測(cè)試解決方案

  30 ms超高速測(cè)試速度

  等效Rdc 可高度四線式測(cè)試,量測(cè)到0.01mΩ

  0.05%基本度

  可內(nèi)建0-100mA +/- 40V,外加可至60A DC Bias

  可將測(cè)試波形儲(chǔ)存成CSV格式,放大、縮小及MARKER功能

  20Hz~120MHz,七種機(jī)型,可隨時(shí)升級(jí) ,高升級(jí)到120MHz

  直覺的用戶操作接口,USB、LAN、GPIBHANDLER

  可使用鼠標(biāo)及鍵盤操控,也可外接打印機(jī)及使用USB接口儲(chǔ)存數(shù)據(jù)

  具等效電路仿真功能,內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺(tái)



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