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中科院聲學(xué)所薄膜體聲波諧振器及其應(yīng)用

發(fā)布時間:2023-03-29瀏覽次數(shù):875返回列表

中科院聲學(xué)所薄膜體聲波諧振器及其應(yīng)用



1、引言

隨著無線通訊技術(shù),特別是第三代通信系統(tǒng)和藍(lán)芽技術(shù)的迅速發(fā)展,工作在射頻波段的通訊器件的微型化、低功耗、集成化及高性能越來越受到人們的重視。其中與規(guī)模集成電路工藝兼容的薄膜體聲波諧振器(FBAR)引人注目,它具有頻率高、Q值高、體積小、承受功率大、換能效率高等諸多優(yōu)點(diǎn),己成為研究的熱點(diǎn)之一。FBAR器件早在1982年開始出現(xiàn)在文獻(xiàn)[1】中,但當(dāng)時并沒有引起人們的重視。在2001年,F(xiàn)BAR技術(shù)首次以雙工器的形式出現(xiàn)在PCS中的蜂窩中,到2002年,安捷倫公司開始大規(guī)模生產(chǎn)FBAR,此時,F(xiàn)BAR器件開始引起業(yè)界的廣泛關(guān)注。

2、FBAR的理論分析

薄膜體聲波諧振器技術(shù)的發(fā)展前身應(yīng)該是工作在厚度伸縮式模式下的石英諧振器,但由于石英不能被加工成所需薄厚度,其高諧振頻率一般只能達(dá)到500MHz,于是人們將注意力轉(zhuǎn)移到可以生長為微米級別厚度的壓電薄膜。隨著微電子機(jī)械系統(tǒng)和壓電薄膜技術(shù)的發(fā)展,高性能UHF波段FBAR諧振器的制作成為可能。

FBAR的結(jié)構(gòu)同石英諧振器相同,如圖1所示。它是由上下平面金屬電極和夾在它們中間的一層壓電薄膜材料組成。當(dāng)電壓施加在電極上時,壓電材料由于逆壓電效應(yīng)產(chǎn)生機(jī)械形變并在薄膜內(nèi)激勵出體聲波,并在兩電極平面之間來回反射,形成機(jī)械諧振,諧振基頻波長等于壓電薄膜厚度的兩倍。

由于FBAR壓電材料中體聲波傳播速度一般是5000~10000m/s,比表面聲波快,因而其結(jié)構(gòu)可以制作得加精細(xì),例如頻率在1.6GHz諧振器可以做到厚度僅為3υm,電極厚度為0.3υm,典型面積為0.25mm×0.25mm。

FBAR諧振器性能的參數(shù)主要有串聯(lián)諧振頻率?s、并聯(lián)諧振頻率?p、品質(zhì)因數(shù)Q、有效耦合系數(shù),其中品質(zhì)因數(shù)Q表示在諧振頻率所儲存的能量與所消耗的能量之比,反映了相對頻率帶寬的大小,其值為

安捷倫公司用壓電材料生產(chǎn)的FBAR的Q值已經(jīng)超過2500,已經(jīng)接近理論大值6.5%。正是這些優(yōu)異的特性,使得該公司用FBAR設(shè)計(jì)的濾波器具有低的通帶內(nèi)低插入損耗和陡峭變化的過渡帶。FBAR器件在設(shè)計(jì)、優(yōu)化、版圖設(shè)計(jì)中,廣泛使用以下兩種模型。

2.1、Mason模型

K.M.Lakin將壓電陶瓷振子的梅森(Mason)模型引入到FBAR的設(shè)計(jì)中[2],成為一維模型。它反映了FBAR特性阻抗與其壓電材料的介電常數(shù)εs、物體密度ρ、彈性勁度CE系數(shù)、壓電應(yīng)力系數(shù)e、薄膜的厚度h和有效橫截面積A等參數(shù)之間的關(guān)系。該模型FBAR的輸入阻抗為

式中,Zr和Z1是壓電薄膜上下邊界負(fù)載由壓電薄膜阻抗歸一化的聲學(xué)阻抗;分別為壓電薄膜的箝制電容、機(jī)電耦合系數(shù)和波矢量。

FBAR的特性阻抗Zin(ω)大和小時對應(yīng)的頻率值,分別為FBAR的并聯(lián)諧振頻率和串聯(lián)諧振頻率,從而可進(jìn)一步計(jì)算有效機(jī)電耦合系數(shù)

由于Mason模型使用物體的材料參數(shù)和物理結(jié)構(gòu)描述FBAR的特性阻抗,與當(dāng)前微波仿真軟件設(shè)計(jì)的要求不兼容,其應(yīng)用范圍受到了一定的限制。

目前聲學(xué)所可以提供如下成套系列產(chǎn)品:

目前聲學(xué)所可以提供成套如下產(chǎn)品:

壓電方面:ZJ-3型D33測試儀,ZJ-4型寬量程型D33測試儀,ZJ-6型D33/D31/D15測試儀,GDPT-900A型變溫壓電D33測試儀

介電方面:GWJDN-1000型高低溫介電測試系統(tǒng),GWJDN-600型四通道高低溫介電測試儀

鐵電方面:ZT-4A鐵電測試儀,F(xiàn)E-5000型鐵電材料測試儀,JKTD-1000型鐵電測試儀

儲能設(shè)備:CFD-100型儲能電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng),CFC-003型儲能電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)

制樣方面:PZT-JH10/4型陶瓷極化裝置,PZT-JH30/3型復(fù)合極化裝置,PZT-JH30/1型PVDF薄膜極化裝置,PVDF-600型連續(xù)薄膜極化裝置系統(tǒng), ZJ-D33-YP15型壓電陶瓷壓片機(jī).




2.2、MBVD模型

MBVD(modifiedbutterworth.vandyke)模型是如圖2所示的等效電路模型[3]。Cp反映了壓電材料的介電性質(zhì);Rm,Lm和Cm串聯(lián)支路反應(yīng)了壓電材料的機(jī)械振動性質(zhì)。為了描述實(shí)際FBAR,又有兩個電阻加在等效電路上,其中Rs代表了電極的阻值;Rp反映了壓電材料的介質(zhì)損耗和寄生的橫波模式所造成的影響,模型中Cp/Cm值的大小同壓

電材料中電能轉(zhuǎn)換成機(jī)械動能的能力成反比。

該模型的串聯(lián)諧振頻率和并聯(lián)諧振頻率分別為

該模型使用六個集總參數(shù)元件描述FBAR,符合微波電路仿真軟件設(shè)計(jì)的要求,便于達(dá)到一定的濾波器頻率響應(yīng)指標(biāo)而對電路參數(shù)進(jìn)行分析和優(yōu)化電路參數(shù)的目的,但模型的缺點(diǎn)是僅能模擬FBAR諧振頻率附近的阻抗特性,并不能給出整個頻域的特性阻抗。


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