xt25519光速測量實驗(相位法)

產品簡介
xt25519光速測量實驗(相位法)采用相位法測量光速,直接對光進行調制得到調幅波,采用差頻技術測量高頻信號的相差,根據相位變化測量波長,得出光速并分析了誤差。...
產品詳細介紹
北京百思佳特公司 劉靜
銷售熱線 br /> xt25519光速測量實驗(相位法)
內置相位計,可直接讀取相位變化。
光速測量實驗(相位法)
半導激光器的電光特性。
用相位法測量光在空氣中的傳播速度。
采用相位法測量光速,直接對光進行調制得到調幅波,采用差頻技術測量高頻信號的相差,根據相位變化測量波長,得出光速并分析了誤差。
光學實驗導軌1200mm,
實驗主機含激光光源650nm, 4mW和探測器。

北京百思佳特公司主營行業:儀器儀表/實驗設備/礦用設備/石油產品/教學儀器/醫療器械
如果您覺得“xt25519光速測量實驗(相位法)”描述資料不夠齊全,請聯系我們獲取詳細資料。(聯系時請告訴我從給覽網看到的,我們將給您最大優惠!)
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光速測量實驗(相位法)
半導激光器的電光特性。
用相位法測量光在空氣中的傳播速度。
采用相位法測量光速,直接對光進行調制得到調幅波,采用差頻技術測量高頻信號的相差,根據相位變化測量波長,得出光速并分析了誤差。
光學實驗導軌1200mm,
實驗主機含激光光源650nm, 4mW和探測器。
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